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薄膜導(dǎo)熱測(cè)試儀
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薄膜熱物性系統(tǒng)主要特點(diǎn)： $n高效便捷的薄膜材料表征手段（nm到um薄膜測(cè)試）。$n不同溫度下的測(cè)量（-170 to 200℃<-可選300℃>）$n樣品易于制備和處理$n高的測(cè)量適應(yīng)性 （樣品厚度，電阻率，沉積方式）$n一個(gè)樣品，一次同步測(cè)量即可獲得所有相關(guān)參數(shù)。$n適用于金屬、陶瓷及有機(jī)材料。
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